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碳化硅外延层厚度的确定(优秀范文二:频域反演法)

本题为 2025 年全国大学生数学建模竞赛 B 题。本站范文逐题手写发布,本文为范文二,视角为频域(波数域)反演法,与范文一(时域非线性最小二乘拟合法)形成互补。全文约 2700 字、含 8 张 SVG 配图与可运行 Python 附录,正文、配图、附录、真源四路数字严格一致。


摘要

针对碳化硅(4H‑SiC)外延层厚度测定问题,本文提出一种基于波数域(频域)相位周期图的反演方法。在空气 / 外延层 / 衬底三层薄膜的干涉模型下,反射率 R(λ)R(\lambda) 对波长的振荡在波数 κ=1/λ\kappa=1/\lambda 域表现为近均匀的周期信号,其周期满足 Δκ=1/(2nd)\Delta\kappa=1/(2n d)。据此,本文先将实测反射率变换到波数域并去除慢变包络,得到纯振荡分量 osc(κ)\mathrm{osc}(\kappa);随后在候选厚度网格上构建"相位周期图"——对每个候选厚度 dd,以 arg⁡=4πn(κ)dκ\arg=4\pi n(\kappa)d\kappa 为载波做线性最小二乘拟合,取振荡功率 P(d)=a2+b2P(d)=a^2+b^2 的峰值作为厚度估计,并经抛物线插值与局部精扫细化。对一条含高斯噪声(标准差 σ=0.006\sigma=0.006)的仿真反射率曲线,本方法给出 d=3.2001 μmd=3.2001\ \mu\mathrm{m},与真值 3.20 μm3.20\ \mu\mathrm{m} 的相对误差仅 3×10−53\times10^{-5};蒙特卡洛 220 次重复得到均值 3.2006 μm3.2006\ \mu\mathrm{m}、标准差 0.0044 μm0.0044\ \mu\mathrm{m}。独立的"极值间距"交叉验证给出中位数估计 3.2129 μm3.2129\ \mu\mathrm{m},与频域结果及范文一时域拟合法(3.1971 μm3.1971\ \mu\mathrm{m})三者互相印证。本文同时量化了不确定度来源:测量噪声贡献约 4.4 nm4.4\ \mathrm{nm},而忽略材料色散将引入约 99.9 nm99.9\ \mathrm{nm} 的系统偏差——本方法通过逐点代入色散 n(κ)n(\kappa) 将其消除。

关键词:薄膜干涉;波数域;相位周期图;外延层厚度;蒙特卡洛不确定度


一、问题重述

已知空气(折射率 N0=1.0N_0=1.0)、碳化硅外延层(折射率随波长色散)、衬底 4H‑SiC(N2=2.70N_2=2.70)构成的三层薄膜结构,在波长 400∼1000 nm400\sim1000\ \mathrm{nm} 范围内测得反射率 R(λ)R(\lambda)(含测量噪声,标准差 σ=0.006\sigma=0.006)。试由该反射率曲线反演外延层厚度 dd、并给出不确定度。外延层折射率服从 Cauchy 色散 n1(λ)=A+B/λ2n_1(\lambda)=A+B/\lambda^2,文献先验 A=2.57, B=0.015A=2.57,\ B=0.015;真值厚度 d=3.20 μmd=3.20\ \mu\mathrm{m}。

范文一采用时域非线性最小二乘直接拟合 R(λ)R(\lambda),本文改从频域切入:利用干涉振荡在波数域的均匀周期性,将厚度反演转化为一个"寻峰"问题,从而在原理上规避了时域拟合对初值的依赖,并天然兼容色散。


二、模型假设

  1. 薄膜为平行于表面的均匀平面层,入射光垂直入射,忽略吸收与散射;
  2. 衬底折射率 N2=2.70N_2=2.70 已知且无色散,空气折射率 N0=1.0N_0=1.0;
  3. 外延层折射率服从 Cauchy 色散 n1(λ)=A+B/λ2n_1(\lambda)=A+B/\lambda^2,其中 A,BA, B 取文献先验,反演中视为已知;
  4. 测量噪声为加性零均值高斯白噪声,标准差 σ=0.006\sigma=0.006,与波长无关;
  5. 波长采样为 400∼1000 nm400\sim1000\ \mathrm{nm} 等间隔 201 点(步长 3 nm3\ \mathrm{nm})。

三、符号说明

符号 含义 符号 含义
λ\lambda 波长(nm) κ\kappa 波数 κ=1/λ\kappa=1/\lambda(μm−1\mu\mathrm{m}^{-1})
dd 外延层厚度(μm\mu\mathrm{m}) n1(λ)n_1(\lambda) 外延层折射率(Cauchy)
R(λ)R(\lambda) 反射率 osc(κ)\mathrm{osc}(\kappa) 去包络后的振荡分量
δ\delta 单程相位厚度 P(d)P(d) 相位周期图功率
σ\sigma 测量噪声标准差 Δκ\Delta\kappa 振荡在波数域的周期

四、模型建立

4.1 为何转向波数域

三层薄膜的双程干涉给出反射率(见范文一正演模型):
R(λ)=∣r∣2,δ=2πn1(λ)dλ.R(\lambda)=|r|^2,\qquad \delta=\frac{2\pi n_1(\lambda)d}{\lambda}.
其中干涉项以 cos⁡(2δ)=cos⁡(4πn1d/λ)\cos(2\delta)=\cos(4\pi n_1 d/\lambda) 振荡。在波长域,相邻反射率极值满足 Δλ≈λ2/(2nd)\Delta\lambda\approx \lambda^2/(2n d)——即振荡间距随 λ\lambda 增大而显著拉长,是非均匀的(图 1 上)。这给"数周期"式的波长域分析带来麻烦:长波端周期稀疏、短波端密集,离散化误差随波长变化。

若改用波数 κ=1/λ\kappa=1/\lambda(单位 μm−1\mu\mathrm{m}^{-1}),则振荡相位变为
arg⁡=4πn1(κ)dλ=4πn1(κ)dκ−1=4πn1(κ)d κ,\arg = \frac{4\pi n_1(\kappa)d}{\lambda}=\frac{4\pi n_1(\kappa)d}{\kappa^{-1}}=4\pi n_1(\kappa)d\,\kappa,
在 κ\kappa 域表现为近均匀的周期信号(图 1 下),周期为
Δκ=12n d⟹d=12n Δκ.\Delta\kappa=\frac{1}{2n\,d}\quad\Longrightarrow\quad d=\frac{1}{2n\,\Delta\kappa}.
这一步坐标变换,把"随波长变化的周期"变成了"近似恒定的频率",从而可以用成熟的频域方法稳健提取厚度。

图1 同一条反射率曲线在波长域与波数域的对比

4.2 去包络与振荡分量提取

反射率曲线同时包含"慢变包络"(反射率整体水平随波长的缓变)与"快变干涉振荡"。为得到纯净的振荡分量,本文对 λ\lambda 做三阶多项式拟合
R(λ)≈c0+c1λ+c2λ2+c3λ3,R(\lambda)\approx c_0+c_1\lambda+c_2\lambda^2+c_3\lambda^3,
以其作为包络估计并相减:
osc(λ)=R(λ)−trend(λ).\mathrm{osc}(\lambda)=R(\lambda)-\mathrm{trend}(\lambda).
随后按 κ=1/λ\kappa=1/\lambda 重新排序,得到波数域振荡序列 osc(κ)\mathrm{osc}(\kappa)。图 2 显示,osc(κ)\mathrm{osc}(\kappa) 是一条振幅基本恒定、周期近均匀的准正弦波,正是频域分析的理想输入。

图2 去趋势后的纯振荡分量 osc(κ)(频域周期图输入)

4.3 相位周期图与厚度反演

对某个候选厚度 dd,构造载波 arg⁡i=4πnidκi\arg_i=4\pi n_i d\kappa_i(其中 ni=n1(λi)n_i=n_1(\lambda_i) 为逐点色散值),用线性最小二乘拟合
osci≈acos⁡(arg⁡i)+bsin⁡(arg⁡i),\mathrm{osc}_i\approx a\cos(\arg_i)+b\sin(\arg_i),
得到系数 (a,b)(a,b)。定义振荡功率
P(d)=a2+b2,P(d)=a^2+b^2,
它衡量"以厚度 dd 为载波频率时,数据能被正弦成分解释的程度"。当 dd 接近真值时,拟合残差最小、P(d)P(d) 最大。因此厚度估计即周期图功率曲线的峰值位置(图 3)。

图3 频域相位周期图:振荡功率 P(d) vs 候选厚度 d

为兼顾效率与精度,采用"粗扫 + 细化"两步:

  1. 粗扫:在 d∈[0.5,8.0] μmd\in[0.5,8.0]\ \mu\mathrm{m} 以步长 0.020.02 计算 P(d)P(d),定位峰值 d∗d^*;
  2. 细化:在 d∗d^* 邻域以步长 0.0010.001 作局部精扫,并用相邻三点做抛物线插值,最终得到 d=3.2001 μmd=3.2001\ \mu\mathrm{m}(图 4)。峰位与真值 3.20 μm3.20\ \mu\mathrm{m} 几乎重合,验证了频域反演的准确性。

图4 周期图峰值放大:频域估计与真值对比

4.4 极值间距交叉验证

作为与周期图互相独立的检验,本文另用"极值间距法":在 osc(κ)\mathrm{osc}(\kappa) 中检测局部极大值,对每对相邻极大值测其波数间距 Δκ\Delta\kappa,由 d=1/(2nˉ Δκ)d=1/(2\bar n\,\Delta\kappa) 反推一个厚度估计。为抑制噪声诱发的伪极大值,先做窗口 5 轻平滑,并以最小间隔(4 个采样点)贪心筛除过近的次级峰。共得到 21 对独立估计,其中位数 3.2129 μm3.2129\ \mu\mathrm{m}、均值 3.1234 μm3.1234\ \mu\mathrm{m},散布区间 1.54∼4.86 μm1.54\sim4.86\ \mu\mathrm{m}(图 5)。中位数与时域、频域结果高度一致,说明三种方法在系统层面互相印证;而间距法的较大散布也提示它作为单点法对噪声更敏感——这正是周期图"整体拟合"更稳健的原因。

图5 极值间距法逐对反推厚度 d 的分布(独立交叉验证)


五、模型求解与结果分析

5.1 频域反演流程

综合上述步骤,频域反演流程为:① 读取反射率 R(λ)R(\lambda);② 三阶多项式去包络;③ 变换至波数域得 osc(κ)\mathrm{osc}(\kappa);④ 相位周期图粗扫定位峰值;⑤ 抛物线 + 局部精扫细化得最终 dd;⑥ 极值间距法独立交叉验证。该流程无需时域拟合那样的多参数初值猜测,对初值完全不敏感。

5.2 反演结果与多方法对比

将频域法与时域法(范文一的非线性最小二乘)、包络法(波长域极值间距初值)对同一条含噪曲线反演,结果如下(图 6):

方法 厚度估计(μm\mu\mathrm{m}) 说明
包络法 3.8268 波长域初值,受噪声上漂明显
时域拟合(范文一) 3.1971 非线性最小二乘,需初值
频域相位(本文) 3.2001 波数域寻峰,免初值、兼容色散
真值 3.20 —

频域法估计 3.2001 μm3.2001\ \mu\mathrm{m} 与真值仅差 0.0001 μm0.0001\ \mu\mathrm{m};包络法因波长域噪声导致极值定位上漂(偏差约 0.63 μm0.63\ \mu\mathrm{m}),凸显了频域变换在稳健性上的优势。

图6 三种反演方法厚度估计对比(真值 3.20 μm)

5.3 残差与稳健性

频域法本质是对 osc(κ)\mathrm{osc}(\kappa) 的整体正弦拟合,残差主要来自测量噪声而非模型失配;由于它利用了全部 201 个采样点的相位信息,对个别异常点的鲁棒性优于仅依赖少数极值点的间距法。后文蒙特卡洛实验进一步量化了这一稳健性。


六、灵敏度分析

6.1 蒙特卡洛不确定度

固定真值 d=3.20 μmd=3.20\ \mu\mathrm{m} 与噪声水平 σ=0.006\sigma=0.006,重复 220 次"加噪反射率 → 频域反演"实验。得到的厚度估计分布(图 7)均值为 3.2006 μm3.2006\ \mu\mathrm{m}、标准差 0.0044 μm0.0044\ \mu\mathrm{m},95% 置信区间 [3.1914, 3.2092] μm[3.1914,\ 3.2092]\ \mu\mathrm{m},偏差(均值减真值)仅 0.0006 μm0.0006\ \mu\mathrm{m}。分布对称、无系统偏移,说明频域反演具有良好的一致性与精度。

图7 频域法蒙特卡洛反演厚度 d 的分布(220 次重复)

6.2 噪声与色散的影响

不确定度预算分解(图 8)显示:① 测量噪声(σ=0.006\sigma=0.006)是随机不确定度的主要来源,贡献约 4.4 nm4.4\ \mathrm{nm};② 网格离散经细化后仅余约 0.5 nm0.5\ \mathrm{nm},可忽略;③ 若忽略色散、用常折射率近似,将引入约 99.9 nm99.9\ \mathrm{nm} 的系统偏差——本文在周期图载波中逐点代入 n(κ)n(\kappa),将该系统误差消除至可忽略水平。可见,材料色散是比采样网格更值得重视的误差源,必须在模型中显式处理。

图8 频域法不确定度预算分解(各分量 / nm)


七、模型评价

优点:① 原理清晰,将厚度反演转化为频域寻峰,物理直观;② 对初值完全不敏感,仅需单次扫描即可收敛,工程实现简单;③ 天然兼容材料色散(逐点 n(κ)n(\kappa)),规避了常折射率近似的百纳米级系统偏差;④ 与极值间距法互为独立交叉验证,结果互相印证;⑤ 对测量噪声稳健,蒙特卡洛标准差仅 4.4 nm4.4\ \mathrm{nm}。

局限与改进:① 周期图分辨率受波长范围与采样点数制约,更厚样品(更多周期)精度更高、更薄样品(周期数少)分辨率下降;② 当前仅反演厚度,若 A,BA,B 亦未知,可扩展为 (d,A,B)(d,A,B) 二维/三维周期图或频域–时域混合反演;③ 极值间距法对噪声较敏感,可改用 Hilbert 包络或加窗谱估计进一步提升交叉验证的精度。


八、结论

本文将薄膜干涉反射率分析从波长域拓展到波数域,建立了基于相位周期图的碳化硅外延层厚度频域反演方法。对含噪仿真数据的反演结果为 d=3.2001 μmd=3.2001\ \mu\mathrm{m},相对真值误差约 3×10−53\times10^{-5};蒙特卡洛 220 次给出不确定度 0.0044 μm0.0044\ \mu\mathrm{m}。该方法无需初值猜测、兼容色散、稳健性强,与范文一的时域拟合法、波长域包络法三者结论一致,为外延层厚度的光学测定提供了一条互补且可靠的途径。


九、参考文献

  1. 2025 高教社杯全国大学生数学建模竞赛 B 题《碳化硅外延层厚度的确定》赛题.
  2. Born M., Wolf E. Principles of Optics. Cambridge University Press, 1999.(薄膜干涉与特征矩阵)
  3. 徐叙瑢等. 薄膜光学与镀膜技术. 科学出版社, 2018.(包络法与色散模型)
  4. Press W. H., et al. Numerical Recipes: The Art of Scientific Computing. Cambridge, 2007.(周期图与最小二乘)
  5. 全国大学生数学建模竞赛组委会. 数学建模方法与分析. 高等教育出版社.

附录:核心 Python 实现

以下代码复用本题真源模块 gen_cumcm2025b_2.py(前向模型与实测数据复用 gen_cumcm2025b.py),可直接运行并复现正文全部关键数字。

import os, sys, math
try:
    _HERE = os.path.dirname(os.path.abspath(__file__))
except NameError:
    _HERE = os.getcwd()
sys.path.insert(0, os.path.abspath(os.path.join(_HERE, "..", "..", "..", "tools")))
import gen_cumcm2025b_2 as G2          # 频域反演真源
import gen_cumcm2025b_2 as G2mod

# 1) 读取同一条含噪仿真反射率(与范文一、正文同源)
Rmeas, clean = G2.G.build_meas()

# 2) 变换到波数域并去包络
kappa, osc, n_arr, trend = G2.detrend(Rmeas)

# 3) 相位周期图反演厚度(粗扫 + 抛物线 + 局部精扫)
d_fd, P_fd = G2.fd_invert(osc, n_arr, kappa, coarse=0.02)
print("频域反演 d = %.4f um  (振荡功率 P = %.4f)" % (d_fd, P_fd))

# 4) 极值间距法独立交叉验证
spacing = G2.extreme_spacing_d(osc, kappa, n_arr)
sp_med = sorted(spacing)[len(spacing) // 2]
print("极值间距法: 对数=%d  median=%.4f um  mean=%.4f um"
      % (len(spacing), sp_med, sum(spacing) / len(spacing)))

# 5) 与范文一时域拟合法、波长域包络法对比
x_td, f_td, it = G2.G.fit(Rmeas, G2.LAM, seed=2026)
env = G2.G.envelope_d(Rmeas)
print("三方法对比: 包络法=%.4f  时域拟合=%.4f  频域相位=%.4f"
      % (env, x_td[0], d_fd))

# 6) 蒙特卡洛不确定度(220 次加噪重复反演)
est, mean, std, lo, hi, bias = G2.fd_monte_carlo()
print("MC(220): mean=%.4f std=%.5f CI=[%.4f, %.4f] bias=%.5f"
      % (mean, std, lo, hi, bias))